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SEM+EDS分析 |
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SEM通过聚焦电子束扫描样品表面，激发二次电子和背散射电子等信号，这些信号被转换为图像，从而揭示样品的微观形貌和结构信息。
SEM+EDS分析技术可以用于研究材料的微观结构和性能之间的关系，为材料的设计、制备和应用提供科学依据。
SEM+EDS分析技术可以用于分析复合材料的界面结构和成分分布，为复合材料的制备和应用提供科学依据。
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